[ 研究・調査・試験 ] 材料技術分野／電子顕微鏡分析技術

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電力中央研究所が所有している、電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM)、電界放出型走査型電子顕微鏡(FE-SEM)などを使用して、金属、セラミック、高分子絶縁材料の微細な領域の組織や構造を解析し、材料の評価に貢献しています。

300kV電界放出型電子顕微鏡(FE-TEM)(電中研設備)

(写真提供：電力中央研究所)

　特徴
本電子顕微鏡は電界放出型電子銃と300kVの加速電圧により、格子分解能：0.07nm,ビームエネルギー幅：0.45eVを有しており、超高分解能観察や微小領域の元素分析を可能としています。

　対象材料
金属、セラミック、高分子絶縁材料