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株式会社電力テクノシステムズ


〒215-0004
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TEL 044-967-0151
FAX 044-967-0152(総務部)
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ホーム > 機器・化学分析 > 形態観察分析
業務内容 タイトル
化学分析
形態観察分析
試料表面・断面の情報を目的に添った分析装置を適確に選定し、最適な方法により収集してお客様のご満足行く結果をご提供いたします。ミクロ・マクロ観察、元素分析、面分析、構造解析等、最新の装置と高い技術力でお客様のニーズにお答えします。
【主な分析装置】
  1. 走査電子顕微鏡(SEM)
  2. 電界放射型走査電子顕微鏡観察(FE-SEM)
  3. 走査電子顕微鏡−X線分析(EPMA、FE−SEM、SEM)
  4. 透過電子顕微鏡観察(TEM)
  5. 集束イオンビーム加工(FIB)
  6. X線回折分析計(XRD)
  7. 蛍光X線分析(XRF)
  8. X線分析顕微鏡(XGT)
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